画面をなぞるだけで簡単計測！「Tab-scale」

とう道をはじめとするNTT基盤設備の劣化を点検する手段は、スケールを用いた計測、目視による判定が主流であり、計測結果を紙へ記入し、データベースへ投入・管理しています。しかしながら、従来の点検では点検作業者の主観に左右されることがあり、精密さに欠けることや、高所に発生した劣化など直接計測が困難な事例では定量データの取得に時間を要するなどの課題がありました。
そこで、アクセスサービスシステム研究所では点検業務における計測稼働の削減や点検品質の維持・向上を目的に、点検現場への導入が進められているタブレットPCを活用した簡便・高精度の劣化部位計測技術を開発しました。

本技術は、タブレットPCで撮影した画像に光点で長さ情報を付与することで、画面上を「なぞる」だけで劣化の長さや幅を高精度に計測できる技術です。本技術により計測稼動の削減や点検品質の確保・向上が期待できます。

 

図1　劣化部位計測技術の概要

 

H29年度に東日本エリアの点検業務に導入予定です。